| SENIS Mapper MMS-1A-RS磁场成像测绘系统
磁场扫描系统，磁场测绘仪，磁场扫描仪，SENIS磁场分析仪 |
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| 产品资料下载↓↓ MMS-1A-RS(中文版) MMS-1A-RS(英文版) | |||||||||||||||||||
| 磁场成像测绘系统MMS-1A-RS___简述 | |||||||||||||||||||
| MMS-1A-RS是SENIS三维磁场扫描成像(映射)系统的高端(高精度)版本，用户可以用MMS-1A-RS对永磁铁、电磁铁、电子电路印刷电路板(PCB) 的磁场进行快速、高分辨地扫描成像(映射)。 磁场的映射可以呈现为1D，2D或3D等轴视觉显示，并作为磁场的数值表和测量点的几何坐标表示。 在磁场映射期间进行测量数据分析，从而可以在映射之后立即可视化分析所需的计算数据。 | |||||||||||||||||||
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| 磁场成像测绘系统MMS-1A-RS___主要特征 | |||||||||||||||||||
| ◆可对不同尺寸和几何形状（圆盘，环，块，段和转子）的永磁体测量的三轴磁场矢量进行在线和离线（历史）可视化和分析；
◆用户友好的自定义测量数据可视化和分析； ◆多个测量数据集的比较； ◆可视化磁场的三个分量Bx, By 和 Bz 以及 Bxy (平面磁场分布), Btotal, Bmax, Bmin, Brms, N极和S级； ◆可视化坡度(倾角和偏角)、磁场均匀性、角度误差； ◆傅里叶分析(FFT)和可视化前10个谐波、单次和全部谐波失真； ◆可视化多极磁场 - 极数，最小值，最大值，平均极宽度(average pole width)，极点分布(pole distribution)，极点间距(pole pitch)，螺距误差(pitch error)，零交叉(zero crossing)； ◆可视化磁化和非磁化部分的裂纹和不均匀性。 |
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| 磁场成像测绘系统MMS-1A-RS___技术参数 |
| 参数 | 数值 | |||||||||||||||||
| 机械规格 | ||||||||||||||||||
| 扫描平台的机械尺寸 | 400 mm x 350 mm x 650 mm | |||||||||||||||||
| 整个系统重量 | ◆机械部分: 26 kg ◆电子模块: 7kg ◆个人电脑: 2kg |
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| 最大扫描范围 (X x Y x Z)
其他尺寸规格可联系当地代理商协商 |
MMS-1A-RS标准规格: 125 x 125 x 150 mm³
MMS-1A-RS拓展规格: 125 x 125 x 290 mm³ MMS-1X-RS标准规格: 570 x 570 x 290 mm³ MMS-1X-RS拓展规格: 570 x 570 x 380 mm³ |
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| 磁场敏感区到磁铁表面的最小距离 | 0.3 mm | |||||||||||||||||
| 最大扫描速度 | 100mm/s | |||||||||||||||||
| 编码器分辨率 | 1 μm (XYZ轴); 0.022° (旋转轴) | |||||||||||||||||
| 定位重复性 | 10 μm (XYZ轴); 0.05° (旋转轴) | |||||||||||||||||
| 预热时间(从冷启动到可以测量这段时间) | < 3 min | |||||||||||||||||
| 关机时间 | < 1 min | |||||||||||||||||
| 从紧急停止恢复时间 | < 1 min | |||||||||||||||||
| 磁场测量参数 | ||||||||||||||||||
| 磁场测量量程 标准：一个固定量程档； 选项：多达3个量程档 |
【默认】±100 mT
【选项】±500 mT 【选项】±2,0000 mT |
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| 磁场测量分辨率 | 优于0.02%(当测量量程≥200mT时) 优于 0.05% (当测量量程≤100mT时) |
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| 磁场测量精度 | 优于 0.1% | |||||||||||||||||
| 测量采样率 | >60 kSamples/s, for 3-channels acquisition >200 kSamples/s, for 1-channel acquisition |
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| 磁场频率带宽 | DC~ 2.5 kHz (-3dB point) 选项: DC~ 25kHz(针对三维探头) DC~ 75kHz(针对单维探头)(-3dB) |
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| 磁场成像系统的典型应用场合 |
| ◆磁场的三轴(Bx, By, Bz)测量、磁场的角测量、磁场编码器的峰值和零值探测、计数磁极的数量；
◆生产的质量评估工具，用于如扬声器，单和多极的永久磁铁，复印机辊和磁性条带组件； ◆用于永久磁铁裂纹的探测； ◆磁铁系统的开发发展； ◆交流磁场的测绘； ◆在实验室和生产线等中的应用 |